Тестирование и измерения
ИЦ "АСК" предоставляет услуги по тестированию всех типов микросхем: аналоговых, цифровых, цифро-аналоговых (АЦП, ЦАП), памяти (ПЗУ, ОЗУ, ППЗУ, флеш-память, eeprom), микроконтроллеров, ПЛИС, СВЧ.
Процесс измерений и тестирования ЭКБ разбивается на несколько этапов:
1. Разработка и изготовление технологической оснастки:
- конструкторские работы, разработка электрических схем, топологии печатных плат (размещение элементов, трассировка монтажных соединений);
- трассировка печатных плат;
- разработка адаптеров, контактирующих устройств для функционального контроля электрорадиоизделий;
- сборка и монтаж технологической оснастки.
2. Разработка приложений-программ контроля
Инженеры – программисты испытательной лаборатории создают программы контроля параметров ЭКБ и интегрируют их с аппаратными средствами, измерительным оборудованием, стендами.
3. Автоматизированные измерения параметров
Нами предъявляются жесткие требования к автоматизации процесса измерений технических параметров микросхем, электронных модулей, пассивной элементной базы.
Для любого образца электронной компонентной базы, организуется процесс измерений и контроля «в один клик».
Весь процесс сводится к установке контрольного образца ЭКБ в технологическую оснастку и нажатию кнопки на пульте оператора. Автоматически проверяются и записываются все параметры контрольного образца, выдается результат, в соответствии с критериями годности («Годен» или «Брак»), выдается протокол измерений.
