+7 (499) 685-14-78

Тестирование и измерения

ИЦ "АСК" предоставляет услуги по тестированию всех типов микросхем: цифровых, цифро-аналоговых (АЦП, ЦАП), памяти (ПЗУ, ОЗУ, ППЗУ, флеш-память, eeprom), микроконтроллеров, ПЛИС, СВЧ.

Процесс измерений и тестирования ЭКБ разбивается на несколько этапов:

1. Разработка и изготовление технологической оснастки:

2. Разработка приложений-программ контроля

Инженеры – программисты испытательной лаборатории создают программы контроля параметров ЭКБ и интегрируют их с аппаратными средствами, измерительным оборудованием, стендами.

3. Автоматизированные измерения параметров

Нами предъявляются жесткие требования к автоматизации процесса измерений технических параметров микросхем, электронных модулей, пассивной элементной базы.

Для любого образца электронной компонентной базы, организуется процесс измерений и контроля «в один клик».

Весь процесс сводится к установке контрольного образца ЭКБ в технологическую оснастку и нажатию кнопки на пульте оператора. Автоматически проверяются и записываются все параметры контрольного образца, выдается результат, в соответствии с критериями годности («Годен» или «Брак»), выдается протокол измерений.